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Untersuchung der Ladungsträgerkinetik in Silicium und Siliciumgrenzflächen mittels kontaktloser Verfahren
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Untersuchung der Ladungsträgerkinetik in Silicium und Siliciumgrenzflächen mittels kontaktloser Verfahren, Reiner Schieck
- Language
- Released
- 1998
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- Title
- Untersuchung der Ladungsträgerkinetik in Silicium und Siliciumgrenzflächen mittels kontaktloser Verfahren
- Language
- German
- Authors
- Reiner Schieck
- Publisher
- Shaker
- Publisher
- 1998
- ISBN10
- 3826539958
- ISBN13
- 9783826539954
- Category
- University and college textbooks