Zuverlässigkeit und Entwurf

Es besteht dringender Bedarf an innovativen Verfahren, um die Ausbeute und die Zuverlässigkeit von mikro- und nanoelektronischen Systemen durch Fehlertoleranz und integrierte Reparaturmechanismen zu gewährleisten und ihre Qualität durch entsprechende Entwurfs-, Verifikations- und Testverfahren sicher zu stellen. Diese Verfahren müssen sowohl Fertigungsfehler und Parameterschwankungen als auch Störungen während des Betriebskompensieren können. Diese Themen werden in diesem Tagungsband intensiv behandelt. Die veröffentlichten Artikel beschreiben die aktuellen Arbeitsergebnisse aus den bedeutenden nationalen und internationalen Forschungsstätten und der industriellen Praxis. Kurzfassungen der vorgestellten Poster geben Einblick in laufende Arbeiten. Die Auswahl der Beiträge ergibt einen umfassenden Überblick über die Aktivitäten im deutschsprachigen Raum im Bereich Zuverlässigkeit und Entwurf mikroelektronischer Schaltungen und Systeme.