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Das Institut für Angewandte Photogrammetrie und Geoinformatik der Jade Hochschule Wilhelmshaven/Oldenburg/Elsfleth veranstaltet vom 01. bis 02.02.2017 die 16. Oldenburger 3D-Tage. Diese Veranstaltung bildet eine wichtige Plattform für Fachleute aus den Bereichen Photogrammetrie, Geodäsie und industrieller Messtechnik; mit ca. 230 Teilnehmern gilt sie als eine der wichtigen Veranstaltungen in diesem Bereich. Die Beiträge in diesem Werk dokumentieren für die Themengebiete Photogrammetrie, Laserscanning und optische 3D-Messtechnik die neuesten Forschungsergebnisse und Anwendungsbeispiele aus Wissenschaft und Praxis, die in dieser Form an anderer Stelle kaum zu finden sind. Aus dem Inhalt: Dynamische Prozesse; Aufnahme und Prozessierung von Laserscandaten; Modellierung; Anwendungen; Sensoren und Plattformen; Sensorik; Kalibrierung und Messunsicherheit; Industrielle Anwendungen
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Photogrammetrie, Laserscanning, optische 3D-Messtechnik, Thomas Luhmann
- Language
- Released
- 2017
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- Title
- Photogrammetrie, Laserscanning, optische 3D-Messtechnik
- Language
- English
- Authors
- Thomas Luhmann
- Publisher
- Wichmann
- Released
- 2017
- ISBN10
- 3879076251
- ISBN13
- 9783879076253
- Category
- University and college textbooks
- Description
- Das Institut für Angewandte Photogrammetrie und Geoinformatik der Jade Hochschule Wilhelmshaven/Oldenburg/Elsfleth veranstaltet vom 01. bis 02.02.2017 die 16. Oldenburger 3D-Tage. Diese Veranstaltung bildet eine wichtige Plattform für Fachleute aus den Bereichen Photogrammetrie, Geodäsie und industrieller Messtechnik; mit ca. 230 Teilnehmern gilt sie als eine der wichtigen Veranstaltungen in diesem Bereich. Die Beiträge in diesem Werk dokumentieren für die Themengebiete Photogrammetrie, Laserscanning und optische 3D-Messtechnik die neuesten Forschungsergebnisse und Anwendungsbeispiele aus Wissenschaft und Praxis, die in dieser Form an anderer Stelle kaum zu finden sind. Aus dem Inhalt: Dynamische Prozesse; Aufnahme und Prozessierung von Laserscandaten; Modellierung; Anwendungen; Sensoren und Plattformen; Sensorik; Kalibrierung und Messunsicherheit; Industrielle Anwendungen