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Polysilizium-Heaterstrukturen für den Einsatz in hochbeschleunigten Zuverlässigkeitstests auf Waferebene
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Die Bachelorarbeit beschäftigt sich mit der Entwicklung hochbeschleunigter Zuverlässigkeitstests auf Waferebene unter Einsatz von In-Situ-Heizelementen aus polykristallinem Silizium. Nach einer Einführung in die Zuverlässigkeitstheorie werden verschiedene Zuverlässigkeitstests analysiert, die derzeit zeitaufwändig sind. Die Arbeit schlägt einen innovativen Ansatz vor, bei dem ein Polysilizium-Widerstand direkt in die Struktur integriert wird, um die Wärmequelle zu optimieren. Zudem werden thermische Simulationen zur Wärmeausbreitung durchgeführt und Möglichkeiten zur Temperaturmessung an den Teststrukturen erörtert.
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Polysilizium-Heaterstrukturen für den Einsatz in hochbeschleunigten Zuverlässigkeitstests auf Waferebene, David Weinberger
- Language
- Released
- 2012
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- Title
- Polysilizium-Heaterstrukturen für den Einsatz in hochbeschleunigten Zuverlässigkeitstests auf Waferebene
- Language
- German
- Authors
- David Weinberger
- Publisher
- GRIN Verlag
- Publisher
- 2012
- Format
- Paperback
- Pages
- 76
- ISBN13
- 9783656276708
- Category
- Electrical engineering
- Description
- Die Bachelorarbeit beschäftigt sich mit der Entwicklung hochbeschleunigter Zuverlässigkeitstests auf Waferebene unter Einsatz von In-Situ-Heizelementen aus polykristallinem Silizium. Nach einer Einführung in die Zuverlässigkeitstheorie werden verschiedene Zuverlässigkeitstests analysiert, die derzeit zeitaufwändig sind. Die Arbeit schlägt einen innovativen Ansatz vor, bei dem ein Polysilizium-Widerstand direkt in die Struktur integriert wird, um die Wärmequelle zu optimieren. Zudem werden thermische Simulationen zur Wärmeausbreitung durchgeführt und Möglichkeiten zur Temperaturmessung an den Teststrukturen erörtert.